上海衡翼精密仪器有限公司
三轮测试仪技术参数 HY(SL)三轮测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中,测试轮将循环测试100次,芯片前方滚动50次,芯片后方滚动50次,循环频率为0.5Hz,向下的压力为8N。经过测试,检查芯片情况,芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。 序号 项目 说明 1 外形尺寸 L 26 × W 23 × H28 cm 2 重量 10 Kgs 3 电源 AC220V 50-60HZ