HY三轮测试仪

  三轮测试仪技术参数
HY(SL)三轮测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中，测试轮将循环测试100次，芯片前方滚动50次，芯片后方滚动50次，循环频率为0.5Hz，向下的压力为8N。经过测试，检查芯片情况，芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。